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TOE-MFA3-01 - PPGCEM

Tópicos Especiais: Microscopia de Força Atômica
Informações da disciplina
  • Departamento: Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais
  • Carga Horária Teórica: 60 horas/aula
  • Carga Horária Prática: 0 horas/aula
  • Créditos: 0

Ementa


Introdução. Microscopia de Força Atômica (AFM): teoria, instrumentação e aplicações das Modalidades: contato, não contato e “phase mode”. Microscopia de Força Magnética (MFM). Microscopia de Força Lateral. Cantilever. Scanner. SPM como uma ferramenta de análise de superfície. Processamento de imagens.

 
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